关键词：谐振腔，微波，介电常数tan
微扰法复介电常数测试系统是采用谐振腔微扰法是一种用于研究谐振器性能的方法，特别是在微波技术领域有广泛应用。这种方法涉及到在谐振腔内部引入微小的扰动，这些扰动可能来自于腔壁的轻微变形或其他形式的局部变化，然后通过对微扰前后场量的对比和分析，来估算这些变化如何影响谐振腔的谐振频率和其他相关参数。微波介质材料介电特性的测量，对于研究材料的微波特性和制作微波器件，获得材料的结构信息以促进新材料的研制，以及促进现代尖端技术(吸收材料和微波遥感)等都有重要意义。
符合标准：
GB/T 5597-1999 固体电介质微波复介电常数的测试方法
GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法
GB/T 7265.1-1987 固体电介质微波复介电常数的测试方法 微扰法
GB 7265.1-87 固体电介质微波复介电常数的测试方法 微扰法
GB 7265.1-1987 固体电介质微波复介电常数的测试方法 微扰法
ASTM D2520-2013 在微波频率和1650℃时固体电绝缘材料复合介电常数的标准试验方法
ASTM D3380-10 基于聚合物的微波电路基板的相对介电常数（介电常数）和损耗因子的标准测试方法
ASTM D5568-08 测量微波频率下固体材料的相对复介电常数和相对磁导率的标准试验方法
ASTM D7449/D7449M-08 使用同轴空气线测量微波频率下固体材料相对复数介电常数和相对磁导率的标准测试方法
ASTM D7449/D7449M-08e1 使用同轴空气线测量微波频率下固体材料相对复数介电常数和相对磁导率的标准测试方法
AS ASTM D2520-2001 在微波频率和1650℃时固体电绝缘材料的复合介电常数的标准试验方法
ASTM D5568-2001 微波频率下固体材料相对复介电常数和磁导率测量标准试验方法
ASTM D3380-1990(2003) 塑料片基微波电路基片的相对透电率(介电常数)和耗散因数测试方法
一、主要特点：
1、 全新架构，更高精度采用了全新的内部架构，具备更加强大的数据处理能力，响应速度更快，能轻松实现4端口S参数测量，差分（平衡）测量，时域测量、带宽、Q值等一键测量。并且其动态范围高达135dB，有着极低的相位噪声，可以帮助工程师在苛刻的测试场景下仍获得准确可靠的测试结果。
2、 电子校准件-让校准一步到位：频率范围9kHz~40GGHz，能帮助工程师解决使用传统机械校准件耗时久、误差大、操作繁琐等问题。电子校准件大幅缩减了校准步骤，减少了连接器的损耗，保证了校准精度，极大的节省了校准所需时间，为多端口测试和产线测试提供了极大便利。
3、 开关矩阵-轻松实现多端口器件测试需求：单台可将输出端口扩展至24个，还可继续叠加。与传统测量方式相比，使用射频开关矩阵测量速度大大提升，可以帮助工程师轻松实现矢量网络分析仪和多端口被测物的连接与测试，也极大的适配了生产线使用场景。
4、 脉冲测量功能：内置脉冲调制器和脉冲发生器应用于测试诸如功率晶体管之类的大功率被测器件，以及需要工作在脉冲模式下的模块。连续波激励所积累的热量可能会损坏被测器件，而使用脉冲激励进行测量可以安全地对这类器件的特性进行表征，同时也支持控制外部脉冲生成器和调制器，与外部主脉冲保持同步
5、 混频器测量
6、 混频器是微波毫米波系统的重要部件，其特性的好坏直接影响设备或仪器的性能。在混频器研发生产的各个阶段，都需要对其性能指标进行测量。
二、主要技术参数：
频率范围：0.1～40.0GHz
测试温度：室温～1750℃
复介电常数测试范围：
r= 1.0～30.0
tan=5.0×10-4～5×10-2
r= 0.5～10
tan = 0.001～1.0
测试误差：
|r/r| 1.5% 当r=2.0～30.0
|r| 2.0% r + 0.02 当r=1.05～2
|tan| 15.0% tan + 2.010-4
|r/r| 2.0%
|tan| 15% tan + 5.010-4
样品尺寸：
圆棒或方棒状小样品材料，直径：1.0～6.0mm，高度不低于30mm；（实际尺寸视具体情况而定）
